IceMOS Technology 提供电介质分离技术,例如在单个芯片上分离耐高压部件。 隔离使用厚膜SOI和高深宽比的深沟槽蚀刻以及氧化物和多晶硅嵌入结构。 这项技术的晶圆尺寸为100-150 mm,器件层的厚度可以为1.5-100 um。
我们的沟槽SOI适用于以下领域:
我们的工程师将与您的设计团队紧密合作,以充分发挥您产品的潜力.
Copyright © IceMOS Technology Ltd. All rights reserved. | Website by Bluesun Software